引言

微型投影、車載顯示與精密成像模組工作過程中，投影光斑分布不均、局部暗斑頻發、畫面成像噪點過多，是影響視覺呈現效果與光學產品良率的核心共性問題。此類成像故障大多并非光源本身故障所致，核心根源在于微透鏡、照明光學鏡片等核心元件表面面形精度不達標，存在微觀波紋、局部曲率畸變、表面粗糙度超標及鍍膜微觀瑕疵等缺陷。傳統光學照度檢測、肉眼目視篩查等常規檢測手段，僅能觀測成像表面直觀不良現象，無法溯源光學元件微觀面形根本誘因，難以精準定位瑕疵點位與畸變數值，無法為光學調校和鏡片加工整改提供有效數據支撐，亟需高精度非接觸式面形檢測技術實現缺陷根源精準管控。

白光干涉面形測量核心檢測原理

白光干涉面形測量技術依托白光短相干干涉核心特性，結合顯微垂直掃描架構與高精度相位解算算法，聚焦投影光學核心元件全域微觀面形開展無損精密測量。區別于常規光學檢測方式，該技術相干長度短、無相位纏繞干擾，可精準捕捉光學鏡片表面納米級微觀凹凸、面形畸變與粗糙度細微差異。檢測時通過納米級壓電掃描機構精準調控光程差，實時采集全域干涉條紋圖譜，經系統算法重構元件三維真實面形數據，精準量化面形PV值、RMS粗糙度、局部曲率偏差等核心指標。通過實測面形參數與光學仿真模型對標，精準關聯元件面形畸變與投影光斑不均、暗斑及畫面噪點的對應關系，厘清成像不良與光學元件面形缺陷的內在耦合規律，實現成像問題溯源與面形參數同步檢測。

測量方案應用價值與實操管控作用

白光干涉面形測量全程采用非接觸式檢測模式，不會損傷光學元件鍍膜與精密工作面，測量精度可達納米級別，檢測數據重復性好、抗干擾能力強。該方案既可用于研發階段光學元件面形參數精準標定，優化光學光路匹配設計，也適配量產環節零部件全檢與不良品快速分選，快速篩除面形不達標工件，精準定位加工制程工藝短板，針對性修正鏡片模壓、拋光與鍍膜工序參數，從源頭遏制投影成像各類不良問題，穩定投影顯示光學品質。新啟航 專業提供綜合光學3D測量方案

大視野3D白光干涉儀——光學鏡片納米級測量解決方案

大視野3D白光干涉儀，聚焦光學鏡片精密測量，打造納米級測量全域解決方案，突破傳統測量局限，定義光學鏡片檢測新范式，以高效、精準的測量能力，適配光學鏡片全流程檢測需求。

設備憑借核心創新技術，一機解鎖納米級全場景測量，重新詮釋精密測量的高效與精準，助力光學鏡片生產、加工環節的質量管控，保障鏡片性能達標。

核心優勢：大視野+高精度，突破行業局限

打破行業常規壁壘，解決傳統設備1倍以下物鏡僅能單孔使用、需兩臺儀器分別實現大視野與高精度測量的痛點。設備搭載全新0.6倍輕量化鏡頭，配備15mm超大單幅視野，搭配可兼容4個物鏡的轉塔鼻輪，一臺設備即可全面覆蓋大視野觀測與高精度測量需求，無需頻繁切換設備，大幅提升檢測效率與數據精準度，完美適配光學鏡片復雜測量場景。

光學鏡片實測應用圖示

（圖示為光學鏡片關鍵指標：含平面度誤差、PV值、RMS值，精準把控鏡片平面精度，保障鏡片光學性能）

（圖示為表面粗糙度：精度達6pm=0.006nm，精準表征鏡片表面光滑度，適配高精度光學鏡片檢測需求）

（圖示為實測涂層厚度：75.2nm，精準測量光學鏡片涂層厚度，助力涂層工藝優化與質量管控）

（圖示為 涂層表面質量3D形貌圖，清晰呈現涂層表面狀態，及時發現涂層缺陷）

特色測量功能：上下平面平行度測量

設備采用獨特光路設計，可實現非透明產品的厚度和平面平行度測量，適配多層玻璃等光學部件的測量需求，進一步拓展光學測量場景。

（圖示為多層玻璃厚度測量，精準獲取多層玻璃厚度數據，保障光學組件裝配精度）

睿克光學——專業提供綜合光學3D測量解決方案，深耕光學鏡片檢測領域，助力光學產業高質量發展！