鏡筒定位面平面度不良引發(fā)鏡片畸變的白光干涉測(cè)量
發(fā)布時(shí)間:
2026-05-11
作者:
新啟航半導(dǎo)體有限公司

摘要

鏡筒定位面平面度不良是誘發(fā)光學(xué)鏡片畸變的主要誘因,鏡片畸變會(huì)嚴(yán)重破壞光學(xué)系統(tǒng)成像精度。白光干涉測(cè)量技術(shù)具備非接觸、納米級(jí)精度優(yōu)勢(shì),可精準(zhǔn)表征定位面平面度缺陷與鏡片畸變特征,為二者關(guān)聯(lián)分析提供可靠檢測(cè)手段。本文采用白光干涉測(cè)量技術(shù),檢測(cè)平面度不良的鏡筒定位面及對(duì)應(yīng)裝配鏡片的畸變情況,探究平面度不良引發(fā)鏡片畸變的規(guī)律,為光學(xué)鏡筒質(zhì)量管控提供技術(shù)支撐。

關(guān)鍵詞

白光干涉測(cè)量;鏡筒定位面;平面度不良;鏡片畸變;檢測(cè)分析

引言

光學(xué)鏡片的裝配精度依賴鏡筒定位面的基準(zhǔn)性能,定位面平面度不良會(huì)產(chǎn)生不均勻裝配應(yīng)力,導(dǎo)致鏡片發(fā)生微觀畸變,進(jìn)而引發(fā)成像模糊、畸變超標(biāo)等問(wèn)題,限制光學(xué)系統(tǒng)的應(yīng)用。傳統(tǒng)檢測(cè)方法難以同步精準(zhǔn)捕捉定位面平面度缺陷與鏡片畸變特征,而白光干涉測(cè)量可清晰呈現(xiàn)微觀形貌,實(shí)現(xiàn)平面度與畸變的精準(zhǔn)檢測(cè),為分析二者關(guān)聯(lián)提供高效技術(shù)路徑。

實(shí)驗(yàn)方案

實(shí)驗(yàn)選用鋁合金鏡筒與石英光學(xué)鏡片,鏡筒定位面尺寸18mm×18mm,制備平面度不良(含凸起、凹陷缺陷)的鏡筒樣本。搭建白光干涉測(cè)量平臺(tái),調(diào)試光路確保檢測(cè)精度,先對(duì)鏡筒定位面全域掃描,采集平面度數(shù)據(jù)并識(shí)別缺陷類型;再將鏡片裝配至鏡筒,通過(guò)白光干涉測(cè)量表征鏡片畸變程度,對(duì)比分析平面度不良類型、偏差與鏡片畸變的對(duì)應(yīng)關(guān)系。

實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析

實(shí)驗(yàn)表明,白光干涉測(cè)量可精準(zhǔn)檢測(cè)定位面平面度不良與鏡片畸變,平面度測(cè)量精度達(dá)±2nm,畸變檢測(cè)誤差小于3%。定位面凸起缺陷易引發(fā)鏡片局部鼓包畸變,凹陷缺陷則導(dǎo)致鏡片凹陷畸變,平面度偏差越大,鏡片畸變程度越顯著。當(dāng)平面度偏差≤0.003mm時(shí),鏡片畸變≤0.5%;偏差超過(guò)0.006mm,畸變?cè)鲋?.3%以上,白光干涉測(cè)量可精準(zhǔn)定位缺陷,為追溯畸變成因、優(yōu)化裝配工藝提供數(shù)據(jù)支撐。

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鏡筒定位面平面度不良引發(fā)鏡片畸變的白光干涉測(cè)量


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